Regio Oost | Innovatieadvies voor FPGA ontwikkeling voor een Advanced Smart Block voor een probecardtester.

De probecard is een cruciaal deel van de zogenaamde wafer test set-up en is de electrische interface tussen het testsysteem en de bond-pads in de wafer. De huidige probecard testers hebben deels beperkingen op het vlak van acuratesse van metingen van contactweerstand, lekstroom metingen, digitale testen en het testen van relays. Gedachte is dat een zogenaamd Advanced Smart Block wordt ontwikkeld met extra functionaliteiten voor probecard testers.